如何判断数字化x光机平板探测器质量性能？-凯发平台app

    平板探测器成像质量的性能指标主要有两个：量子勘探功率和空间分辩率，其是数字化x光机成像好坏决定性因素之一。 dqe决定了平板探测器对不一样安排密度区别的分辩才能；而凯发平台app空间分辩率决议了对安排细微布局的分辩能力。那么如何判断数字化x光机平板探测器质量性能？

    （1）影响平板探测器dqe的要素
    直接变换平板探测器中，x线变换成电信号决议于非晶硒层发生的电子-空穴对， dqe的凹凸取决于非晶硒层发生电荷的才能。总的来说，碘化铯 ( csi ) a-si(非晶 硅) tft布局的直接变换平板探测器的极限dqe高于a-se (非晶硒) 直接变换平板探测 器的极限dqe。

（普朗品牌产品--移动数字化x光机plx5200）

    （2）影响平板探测器空间分辩率的要素
    在直接变换平板勘探器中，空间分辩率决议于单位面积内薄膜晶体管矩阵巨细。 矩阵越大薄膜晶体管个数越多，空间分辩率越高，能够到达很高的空间分辩率。

    （3）量子探测功率于空间分辩率的联系
    关于同一种平板探测器，在不一样的空间分辩率时，其dqe是改变的；极限的dqe高 ，不等于在任何空间分辩率时dqe都高。dqe的计算公式如下：
    dqe=s2×mft2/nsp×x×c
    s：信号均匀强度；mft：调制传递函数；x：x线曝光强度；nps：体系噪声功率谱 ；c：x线量子系数

    从计算公式中能够晓得，不一样的mft值中对应不一样的dqe，这说明在不一样的空间分辨率时有不一样的dqe。

    直接变换平板探测器的极限dqe比较高，可是跟着空间分辩率的进步，其dqe降低得较多；而直接变换平板探测器的极限dqe不如直接变换平板探测器的极限dqe高，但在高空间分辩率时，直接变换平板探测器的dqe高。